Equipamentos e Técnicas Disponíveis

• Elipsômetro Espectroscópico SEMILAB, modelo SOPRA GES 5
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  • Elipsometria e Fotometria.
• Microscópio Confocal Interferométrico LEICA, modelo DCM 3D
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  •  Topografia microscópica, múltiplo perfil e rugosidade (Norma DIN 4768 e ASME B46.1).
• Ultramicrodurômetro SHIMADZU, modelo DUH 211S
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  • Ultramicrodureza e módulo de elasticidade.
•  Microscópio Comparador LEICA, modelo FSC
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  • Microcomparação de superfícies.
    
• Câmera Térmica FLIR
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  • Radiância e Temperatura.
• Analisador de Partículas Anton Paar
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  • Concentração de nanopartículas.
  • Tamanho de nanopartículas.
  • Turbidez.
  • Transmitância.
  • Massa molar
• Analisador Eletrocinético para Análise de Superfície Sólida Anton Paar
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  • Análise do potencial zeta em sólidos macroscópicos.
  • Detecção do ponto isoelétrico.
  • Cinética de adsorção líquido-sobre-sólido.